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x|blade

来源:GE    发布时间:2016-12-21    浏览次数:2229

Seifert x|blade


是一种易于使用的无损 (NDT) X 射线检测系统,适用于铸件,具有独特的超高成像质量和大体积通过能力。它将对待测部件的机器人定位、成像链(可对成像链进行定制以满足特定需求)与符合 DICONDE要求的影像审查、共享和存档系统融于一体,从而提供快速、灵活的检测及快速审查。Seifert x|blade 系统是 GE 旗下检测科技业务部门的产品之一,用于帮助客户从胶片式的放射成像技术过渡到数字化的放射成像技术。

主要特性和优点:

  • 可定制的成像链,使用基本空间分辨率和焦点尺寸组合进行了优化,以满足影像质量要求或极大程度地减少曝光次数
  • 配有机器人定位的自动化检测计划,无需人机交互即可实现多次观测
  • E持久闪烁器技术,可消除探测器的拖影和滞后
  • 成套系统的占地空间小,且极大程度地利用了已发布的平台的组件和概念
  • 符合 DICONDE 要求的解决方案,配有用于数据存储和保留的数种选件,利用查询功能可查询带 DICONDE 标记的字段


工作流增强选件:

  • 使用 GE 的 Flash!Filter(一种动态调整算法,用于检验影像表现的一致性),单击一下即可优化影像观测
  • 利用带对比锁定机制的软件工具的数字参考图像,用于根据 ASTM 标准进行检测分类
  • 集成在检测工作流中的、配有光扫描器和识别系统的自动部件识别


应用领域:


自动化航空铸件检测

Seifert x|blade - 无损检测 (NDT) 解决方案之一,适用于航空零件,可检测长达 400 mm ,重 8kg 的铸造涡轮叶片。x|blade 功能满足 MAI(金属的经济可承受性计划) 和 ASTM 标准。数字化的放射成像技术具有胶片式的放射成像技术的很多优点,同时避免前者的缺点。它增强了放射成像技术,可实现数字化技术数据处理、分析和存储。飞机的涡轮叶片可使用 Seifert x|blade 系统进行检测。

航空发动机性能的要求越来越严格。高性能发动机采用先进的多壁铸造工艺进行冷却的设计。这对检测任务是一个挑战,由于现有测量技术无法确定这些新式多壁铸件的可接受性。在涡轮发动机部件设计的研究进展,包括多壁叶片,CT技术的应用是明显的需求。

Bladeǀline X射线CT系统的主要功能是创建内部铸造件的CT切片图像,为评估提供更多详细的数据(壁厚测量和缺陷分析)

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CT截面图像:仿PITv2叶片的内部壁厚测量

超快的GE Jupiter 线阵列探测器能在每秒快速生成100幅图像以生成二维射线图像。通过分析这些重要的内部结构信息CT截面数据,可以很容易地对特定的感兴趣区域进行跟踪识别。


二维射线图像呈现了一个可能钻孔过深位置

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CT 现场检测在钻孔过深位置进行壁厚确



  • microme|x[2016-12-20]

    phoenix microme|x —— 高分辨率的微焦点X射线检测系统,主要设计用于焊点和电子元件的实时X射线检测 它将高分辨率的二维X射线技术和计算机断层扫描结合在一个系统中,同时具有创新的功能。多功能、易于使用的phoenix microme|x 提供了出色的图像质量,可以用于故障分析实验室以及生产车间。它配备了phoenix|X射线专有的图像处理软件,用于PCB装配的自动检测,提供更高的缺陷覆盖率,同时提高了生产效率。

  • x|aminer[2016-12-20]

    phoenix x|aminer ——— 一款操作简便的入门级X射线检测系统, 具有高性能的微焦点无损检测设备, 专为半导体封装, 电子元器件和电子组装等领域高分辨率检测要求而设计. 现配备了新型CMOS平板探测器, 比图像增强器具有更好的信噪比, 清晰度和实时成像能力, 并可选CT功能. 系统提供了功能强大和易用性好的phoenix x|act base二维软件和 datos|x base CT软件, 并允许手动检测和编程自动检测

  • X-cube[2016-12-21]

    seifert x-cube 高度多功能的160千伏放射镜检测系统,用于现场测试和各种小试样的小系列检测,包括轻金属铸件、钢构件、塑料、陶瓷和特种合金。 该系统的设计在应用中具有很大的灵活性,如生产、进货检测、故障分析或研究和开发 。 凭借其集成的图像增强系统-Seifert VISTAPLUS-, 标准版的可编程系统可提供快速和高品质的检测。 它可以处理重型及大型的测试样品,且可以快速对其进行装卸。 易于对经验证的图像增强系统进行操作与编程,有助于用户准确保存并做出正确的检测决定。

  • nanome|x[2016-12-20]

    phoenix nanome|x —— 超高分辨率的纳米焦点X射线检测系统,设计用于检测半导体及SMT行业的高品质的组件和互连 该系统具有良好的性能和多功能性,可用于二维X射线检测,以及全三维计算机断层扫描(nano ct)。有了新的 x|act 软件包, phoenix nanome|x是可选的系统,用以确保满足目前和未来的零缺陷要求。

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